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眾所周知，接觸式測頭是三坐標測量時常見的標準配件，而光學測頭則是影像儀采集工件信息的重要來源。光學觸頭和接觸式測頭是相互補充的關系，并不存在巨大的優劣之分。
下面，我們從三個方面來分析三坐標接觸式測頭和影像儀光學測頭
三維光學測頭分為三種不同的分類：點光源、線光源、面光源。通常根據不同的應用場景選擇不同的測頭，而影像儀光學測頭的應用主要分為表面數字化和三維測量兩大類，二者依據生成的是點云還是是三角網格進行區分。
影像儀光學測頭具有測量速度快，曲面數據易獲取；輕松測量柔軟、易碎、不可接觸、薄件、毛皮、變形細小等工件，無接觸力，不會傷害精密表面。對于一些特殊的零件，光學測頭的優勢占據上風，能很好彌補了三坐標接觸式測頭在這一類應用上的不足。
說完影像儀光學測頭相較于三坐標接觸式測頭有哪些優勢，接下來談談接觸式測頭在實際應用時的優點，接觸式測頭具有測量精度高、可直接測量到工件特定的幾何特征的優勢，如一些徑深很小、很細的孔時，光學測頭的光線無法觸及，但測針的測球部位可以去接觸被測物體進行采點，；另外，一些需要L型測針的場合，接觸式測頭能很快的完成測量任務。
光學測量相對接觸式測量而言，測量精度相對不是太高， 對于有陡峭面的工件，難以獲取幾何特征，在測量中會存在測量死角；工件表面與探頭表面不是垂直，測量會存在一定誤差；工件表面的明暗程度會影響測量的精度。
選擇三坐標接觸式測量需要逐點測量，速度慢測量前需做半徑補償，接觸力大小會影響測量值，接觸力會造成工件及探頭表面磨損影響光滑度；傾斜面測量時，不易補償半徑，精度難以保證；測量工件內部時，形狀尺寸會影響測量。
三坐標接觸式測頭與影像儀光學測頭兩者之間更多的是互相補充的關系，需要用戶在認清自身應用場景下選擇正確的測頭。隨著測量技術的不斷發展與完善，許多非接觸式測頭也可以測量微觀形貌，并且精度較高，復合式影像測量儀通過一臺設備集成光學測頭、接觸式測頭、激光測頭，一次性測量全部要素，發展趨勢不容小覷。
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